產(chǎn)品簡介:用于高品質(zhì)成像與高級分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡 靈活的探測,4步工作流程,高級的分析性能 將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間:設(shè)置成像與分析步驟,提高效率。
189-9433-5514
用于高品質(zhì)成像與高級分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡
靈活的探測,4步工作流程,高級的分析性能
將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間:設(shè)置成像與分析步驟,提高效率。
Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器,可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間,任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。
特點(diǎn)
1: 用于清晰成像的靈活探測
· 利用先進(jìn)探測術(shù)為您的需求定制 Sigma,表征所有樣品。
· 利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。
· 利用新一代的二次探測器,獲取高達(dá)50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測器,在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對比度的銳利的圖像。
2: 自動化加速工作流程
· 4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中,從快速成像和節(jié)省培訓(xùn)首先,先對樣品進(jìn)行導(dǎo)航,然后設(shè)置成像條件。
· 首先,先對樣品進(jìn)行導(dǎo)航,然后設(shè)置成像條件。
· 接下來對樣品感興趣的區(qū)域進(jìn)行優(yōu)化并自動采集圖像。最后使用工作流程的最后一步,將結(jié)果可視化。
3:高級分析型顯微鏡
· 將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合:Sigma 一流的背散射幾何探測器大大提升了分析性能,特別是對電子束敏感的樣品。
· 在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。
· 獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,獲取完整且無陰影的分析結(jié)果。
聯(lián)系人:周經(jīng)理
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